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Lexikon der Optik: Reflexionsspektroskopie

Reflexionsspektroskopie, Methode zur Untersuchung des Reflexionsspektrums, d.h. zur Messung der spektralen Zusammensetzung der von einer Oberfläche reflektierten Strahlung, im Vergleich mit der einfallenden Primärstrahlung, und der Winkelverteilung der Strahlungsleistung. Es gibt zwei Grenzfälle, die reguläre Reflexion an einer ideal ebenen Oberfläche und die diffuse Reflexion an einer ideal matten Oberfläche. In der Praxis treten alle möglichen Übergänge zwischen ihnen auf. Entsprechend diesen Grenzfällen gibt es zwei unterschiedliche Verfahren der R.: 1) Aus der gemessenen regulären Reflexion werden der Brechungsindex und der Absorptionsindex des untersuchten Stoffes mittels der Fresnelschen Formeln in Abhängigkeit von der Wellenlänge des Lichtes ermittelt. 2) Bei dem Verfahren der diffusen Reflexion wird die Gültigkeit des Lambertschen Kosinusgesetzes für die reflektierte Strahlungsleistung vorausgesetzt. Für das Zustandekommen dieser isotropen Strahlung gibt es zwei Modelle: Sind die Durchmesser der reflektierenden Teilchen größer als die Wellenlänge, wird die Strahlung durch reguläre Reflexion an unter allen möglichen Winkeln zur makroskopischen Oberfläche geneigten Elementarspiegeln, z.B. Kristallflächen, reflektiert. Bei Teilchendurchmessern kleiner als die Wellenlänge tritt Streuung auf.

Die R. stellt im besonderen eine wertvolle Ergänzung der Absorptionsspektroskopie dar, indem sie solche Spektralbereiche zu untersuchen gestattet, in denen die Substanz sehr stark absorbiert und demzufolge sehr gut reflektiert (Reflexion). Solche Verhältnisse liegen bei Metallen vor, außerdem bei Kristallen mit typischer Ionenbindung, z.B. Halogeniden der Alkalimetalle, in ausgewählten, engen Spektralbereichen im IR-Gebiet (Reststrahlmethode).

In der Frequenzabhängigkeit des Reflexionsgrades werden die Resonanzfrequenzen (meist Schwingungsfrequenzen) des Materials erkennbar, denn der Reflexionsgrad hängt vom Brechungsindex sowie vom Absorptionsindex ab, deren Frequenzabhängigkeit wesentlich durch die Lage der Resonanzfrequenzen bestimmt wird (Dispersionsformel).

  • Die Autoren
Roland Barth, Jena
Dr. Artur Bärwolff, Berlin
Dr. Lothar Bauch, Frankfurt / Oder
Hans G. Beck, Jena
Joachim Bergner, Jena
Dr. Andreas Berke, Köln
Dr. Hermann Besen, Jena
Prof. Dr. Jürgen Beuthan, Berlin
Dr. Andreas Bode, Planegg
Prof. Dr. Joachim Bohm, Berlin
Prof. Dr. Witlof Brunner, Zeuthen
Dr. Eberhard Dietzsch, Jena
Kurt Enz, Berlin
Prof. Joachim Epperlein, Wilkau-Haßlau
Prof. Dr. Heinz Falk, Kleve
Dr. Wieland Feist, Jena
Dr. Peter Fichtner, Jena
Dr. Ficker, Karlsfeld
Dr. Peter Glas, Berlin
Dr. Hartmut Gunkel, Berlin
Dr. Reiner Güther, Berlin
Dr. Volker Guyenot, Jena
Dr. Hacker, Jena
Dipl.-Phys. Jürgen Heise, Jena
Dr. Erwin Hoffmann, Berlin (Adlershof)
Dr. Kuno Hoffmann, Berlin
Prof. Dr. Christian Hofmann, Jena
Wolfgang Högner, Tautenburg
Dipl.-Ing. Richard Hummel, Radebeul
Dr. Hans-Jürgen Jüpner, Berlin
Prof. Dr. W. Karthe, Jena
Dr. Siegfried Kessler, Jena
Dr. Horst König, Berlin
Prof. Dr. Sigurd Kusch, Berlin
Dr. Heiner Lammert, Mahlau
Dr. Albrecht Lau, Berlin
Dr. Kurt Lenz, Berlin
Dr. Christoph Ludwig, Hermsdorf (Thüringen)
Rolf Märtin, Jena
Ulrich Maxam, Rostock
Olaf Minet, Berlin
Dr. Robert Müller, Berlin
Prof. Dr. Gerhard Müller, Berlin
Günter Osten, Jena
Prof. Dr. Harry Paul, Zeuthen
Prof. Dr. Wolfgang Radloff, Berlin
Prof Dr. Karl Regensburger, Dresden
Dr. Werner Reichel, Jena
Rolf Riekher, Berlin
Dr. Horst Riesenberg, Jena
Dr. Rolf Röseler, Berlin
Günther Schmuhl, Rathenow
Dr. Günter Schulz, Berlin
Prof. Dr. Johannes Schwider, Erlangen
Dr. Reiner Spolaczyk, Hamburg
Prof. Dr. Peter Süptitz, Berlin
Dr. Johannes Tilch, Berlin (Adlershof)
Dr. Joachim Tilgner, Berlin
Dr. Joachim Träger, Berlin (Waldesruh)
Dr. Bernd Weidner, Berlin
Ernst Werner, Jena
Prof. Dr. Ludwig Wieczorek, Berlin
Wolfgang Wilhelmi, Berlin
Olaf Ziemann, Berlin


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