News: Mikrotaster für atomare Landschaften
Eingesetzt werden kann der neue Chip zur nahezu berührungslosen Messung der Oberflächenrauhheit sowie der Formvermessung von Mikroteilen in der Qualitätskontrolle. Auch für neuartige Rasterkraftmikroskope ist er geeignet. Ein solches Rasterkraftmikroskop tastet Oberflächen ähnlich ab wie eine Nadel eine Schallplatte, nur viel feiner. Das Prinzip war von dem deutschen Physiker Gerd Binnig entwickelt worden, der gemeinsam mit Heinrich Rohrer für eine verwandte Entwicklung, das Rastertunnelmikroskop, 1986 den Nobelpreis für Physik bekam.
Ein wesentlicher Vorteil ist, daß viele der Chips neben- und übereinander – als sogenanntes Array – angeordnet werden können. Dadurch ist es möglich, größere Flächen als bisher und zudem in wesentlich kürzerer Zeit zu vermessen. Bei der Messung wird eine Gleichspannung an den Linearantrieb angelegt, die die Meßspitze an die Oberfläche heranführt, die geprüft werden soll. Gleichzeitig schwingt die Spitze einige tausend Mal in der Sekunde hin und her. Die Schwingungszahl und die Auslenkung ändert sich, je näher die Spitze der Oberfläche kommt. Diese Änderungen werden erfaßt und durch einen Computer ausgewertet. Ein weiterer Vorteil: Durch den großen Meßbereich des Fühlers entfällt das Nachstellen bei der Messung. Zur Zeit arbeiten die Wissenschaftler daran, ihr Gerät zu optimieren und handhabbarer zu machen.
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