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Lexikon der Optik: mikroskopisches Messen

mikroskopisches Messen, meßtechnische Beurteilung von Längen, Flächen, Winkeln und Formen mit Hilfe von Mikroskopen, sowie die Bestimmung der Anzahl der in einem bestimmten Volumen enthaltenen Teilchen (z.B. von Bakterien oder Blutzellen).

Zur Längenbestimmung mikroskopischer Objekte verwendet man Hilfseinrichtungen wie Okularmikrometer, Objektmikrometer und Mikroskopkreuztische.

Okularmikrometer sind kreisrunde Glasplättchen mit Intervalleinteilung verschiedener Ausführung. Oft sind 5 mm in 50 Teile oder 10 mm in 100 Teile zu je 0,1 mm geteilt (Strichmikrometer 5:50 oder 10:100).

Mit dem Okularmikrometer mißt man nicht das Objekt selbst, sondern das von ihm in der Okularebene entworfene Bild. Die in Teilen des Okularmikrometers gemessene Größe des Objektes muß noch mit einem Eichwert, dem Mikrometerwert, multipliziert werden. Dieser Wert wird mit Hilfe eines Objektmikrometers festgestellt.

Das Okularschraubenmikrometer dient zu Präzisionsmessungen, wobei eine Meßlinie mittels einer Schraube über das Sehfeld hinweggeführt werden kann.

Dickenmessungen können mit Hilfe der Mikrometerschraube des Mikroskops vorgenommen werden, wenn sie eine Noniuseinteilung besitzt. Man stellt zuerst auf den oberen, dann auf den unteren Teil des Präparates ein und berücksichtigt die Brechungsindizes des Einbettungsmediums und des Mediums zwischen Frontlinse und Deckglas. Solche Messungen können nur mit Objektiven hoher Apertur und damit ohne große Schärfentiefe durchgeführt werden.

Flächenbestimmung ist möglich mit dem Okularnetzmikrometer, wobei man den Flächeninhalt aus der Anzahl der Quadrate bekannter Seitenlänge errechnen kann. Genauere Werte erhält man durch Planimetrie einer vergrößerten mikrophotographischen Aufnahme oder eines projizierten Bildes eines mikroskopischen Präparates.

Winkelmessungen können durchgeführt werden mit einem Goniometerokular, dessen Fadenkreuz nacheinander auf die Schenkel der Präparatkonturen eingestellt wird, wobei dann der Winkel am drehbaren Objekttisch abgelesen wird.

Für petrographische Messungen sind Universaldrehtische erforderlich.

Mit Meßmikroskopen (technische Mikroskope) sind Längen- und Winkelmessungen im Durch- und im Auflicht bei mikroskopischer Vergrößerung und somit erhöhter Meßgenauigkeit möglich.

Zur Messung von Längen und Winkeln an Kristallen sowie zur Bestimmung der flächenmäßigen Verteilung verschiedener Kristallkomponenten werden Polarisationsmikroskope verwendet, die mit speziellen Meßokularen ausgestattet sind.

  • Die Autoren
Roland Barth, Jena
Dr. Artur Bärwolff, Berlin
Dr. Lothar Bauch, Frankfurt / Oder
Hans G. Beck, Jena
Joachim Bergner, Jena
Dr. Andreas Berke, Köln
Dr. Hermann Besen, Jena
Prof. Dr. Jürgen Beuthan, Berlin
Dr. Andreas Bode, Planegg
Prof. Dr. Joachim Bohm, Berlin
Prof. Dr. Witlof Brunner, Zeuthen
Dr. Eberhard Dietzsch, Jena
Kurt Enz, Berlin
Prof. Joachim Epperlein, Wilkau-Haßlau
Prof. Dr. Heinz Falk, Kleve
Dr. Wieland Feist, Jena
Dr. Peter Fichtner, Jena
Dr. Ficker, Karlsfeld
Dr. Peter Glas, Berlin
Dr. Hartmut Gunkel, Berlin
Dr. Reiner Güther, Berlin
Dr. Volker Guyenot, Jena
Dr. Hacker, Jena
Dipl.-Phys. Jürgen Heise, Jena
Dr. Erwin Hoffmann, Berlin (Adlershof)
Dr. Kuno Hoffmann, Berlin
Prof. Dr. Christian Hofmann, Jena
Wolfgang Högner, Tautenburg
Dipl.-Ing. Richard Hummel, Radebeul
Dr. Hans-Jürgen Jüpner, Berlin
Prof. Dr. W. Karthe, Jena
Dr. Siegfried Kessler, Jena
Dr. Horst König, Berlin
Prof. Dr. Sigurd Kusch, Berlin
Dr. Heiner Lammert, Mahlau
Dr. Albrecht Lau, Berlin
Dr. Kurt Lenz, Berlin
Dr. Christoph Ludwig, Hermsdorf (Thüringen)
Rolf Märtin, Jena
Ulrich Maxam, Rostock
Olaf Minet, Berlin
Dr. Robert Müller, Berlin
Prof. Dr. Gerhard Müller, Berlin
Günter Osten, Jena
Prof. Dr. Harry Paul, Zeuthen
Prof. Dr. Wolfgang Radloff, Berlin
Prof Dr. Karl Regensburger, Dresden
Dr. Werner Reichel, Jena
Rolf Riekher, Berlin
Dr. Horst Riesenberg, Jena
Dr. Rolf Röseler, Berlin
Günther Schmuhl, Rathenow
Dr. Günter Schulz, Berlin
Prof. Dr. Johannes Schwider, Erlangen
Dr. Reiner Spolaczyk, Hamburg
Prof. Dr. Peter Süptitz, Berlin
Dr. Johannes Tilch, Berlin (Adlershof)
Dr. Joachim Tilgner, Berlin
Dr. Joachim Träger, Berlin (Waldesruh)
Dr. Bernd Weidner, Berlin
Ernst Werner, Jena
Prof. Dr. Ludwig Wieczorek, Berlin
Wolfgang Wilhelmi, Berlin
Olaf Ziemann, Berlin


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