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Lexikon der Optik: Sehschärfebestimmung

Sehschärfebestimmung, Visusbestimmung, Prüfung bzw. Messung der Sehschärfe bzw. des Visus mit Hilfe von Sehzeichen unter definierten Prüfbedingungen. Erforderlich ist sie zur subjektiven Refraktionsbestimmung, ophthalmologischen Diagnostik und Begutachtung sowie zur klinischen Funktionskontrolle.

Normsehzeichen ist nach DIN 58220 der Landolt-Ring, der als kleinstes auflösbares Sehdetail eine Lücke hat, deren Breite der Strichdicke des Ringes entspricht. Die Darbietungsbedingungen für das Normsehzeichen sind hinsichtlich folgender Faktoren festgelegt und werden als Standardverfahren bezeichnet:

- Darstellung schwarz auf weißem Grund ohne wahrnehmbare Leuchtdichteunterschiede im Sehzeichen selbst oder zwischen verschiedenen Sehzeichen;

- Abstufung der Visuswerte und der Sehzeichengröße im Bereich von Visus 0,05 bis 0,5 in logarithmischer und von Visus 0,5 bis 2,0 in arithmetischer Progression;

- Prüffelddurchmesser muß mindestens einem Sehwinkel von 4° entsprechen;

- Mindestabstand zwischen den Sehzeichen (in ') soll 5×Strichbreite (in ') +12' betragen;

- Prüfentfernung 5 m ±5%;

- Prüffeldleuchtdichte soll 200 bis 500 cd/m2 betragen;

- Sehzeichenleuchtdichte am Ort der Darbietung maximal 10% der Prüffeldleuchtdichte;

- Umfeldleuchtdichte soll geringer als die des Prüffeldes sein, aber 25% der Prüffeldleuchtdichte nicht unterschreiten;

- Abbruchkriterium der Prüfung ist erreicht, wenn mehr als 25% falsche Angaben gemacht werden, wobei die letzte Visusstufe vor dem Abbruch gewertet wird.

Die Anwendung des Normsehzeichens und des Standardverfahrens ist bei Tauglichkeitsuntersuchungen und Gutachten obligatorisch. Werden für die subjektive Refraktionsbestimmung andere Sehzeichen als das Normsehzeichen benutzt, so müssen diese an das Normsehzeichen angepaßt (angeschlossen) sein. Unter Anschluß eines Sehzeichens versteht man den statistischen Nachweis, daß die Abweichung der Erkennbarkeit des angewendeten Sehzeichens gegenüber dem Normsehzeichen nicht mehr als 5% beträgt.

  • Die Autoren
Roland Barth, Jena
Dr. Artur Bärwolff, Berlin
Dr. Lothar Bauch, Frankfurt / Oder
Hans G. Beck, Jena
Joachim Bergner, Jena
Dr. Andreas Berke, Köln
Dr. Hermann Besen, Jena
Prof. Dr. Jürgen Beuthan, Berlin
Dr. Andreas Bode, Planegg
Prof. Dr. Joachim Bohm, Berlin
Prof. Dr. Witlof Brunner, Zeuthen
Dr. Eberhard Dietzsch, Jena
Kurt Enz, Berlin
Prof. Joachim Epperlein, Wilkau-Haßlau
Prof. Dr. Heinz Falk, Kleve
Dr. Wieland Feist, Jena
Dr. Peter Fichtner, Jena
Dr. Ficker, Karlsfeld
Dr. Peter Glas, Berlin
Dr. Hartmut Gunkel, Berlin
Dr. Reiner Güther, Berlin
Dr. Volker Guyenot, Jena
Dr. Hacker, Jena
Dipl.-Phys. Jürgen Heise, Jena
Dr. Erwin Hoffmann, Berlin (Adlershof)
Dr. Kuno Hoffmann, Berlin
Prof. Dr. Christian Hofmann, Jena
Wolfgang Högner, Tautenburg
Dipl.-Ing. Richard Hummel, Radebeul
Dr. Hans-Jürgen Jüpner, Berlin
Prof. Dr. W. Karthe, Jena
Dr. Siegfried Kessler, Jena
Dr. Horst König, Berlin
Prof. Dr. Sigurd Kusch, Berlin
Dr. Heiner Lammert, Mahlau
Dr. Albrecht Lau, Berlin
Dr. Kurt Lenz, Berlin
Dr. Christoph Ludwig, Hermsdorf (Thüringen)
Rolf Märtin, Jena
Ulrich Maxam, Rostock
Olaf Minet, Berlin
Dr. Robert Müller, Berlin
Prof. Dr. Gerhard Müller, Berlin
Günter Osten, Jena
Prof. Dr. Harry Paul, Zeuthen
Prof. Dr. Wolfgang Radloff, Berlin
Prof Dr. Karl Regensburger, Dresden
Dr. Werner Reichel, Jena
Rolf Riekher, Berlin
Dr. Horst Riesenberg, Jena
Dr. Rolf Röseler, Berlin
Günther Schmuhl, Rathenow
Dr. Günter Schulz, Berlin
Prof. Dr. Johannes Schwider, Erlangen
Dr. Reiner Spolaczyk, Hamburg
Prof. Dr. Peter Süptitz, Berlin
Dr. Johannes Tilch, Berlin (Adlershof)
Dr. Joachim Tilgner, Berlin
Dr. Joachim Träger, Berlin (Waldesruh)
Dr. Bernd Weidner, Berlin
Ernst Werner, Jena
Prof. Dr. Ludwig Wieczorek, Berlin
Wolfgang Wilhelmi, Berlin
Olaf Ziemann, Berlin


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