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Lexikon der Optik: Strahlungsempfänger

Strahlungsempfänger, Geräte zum Nachweis elektromagnetischer Strahlung. Für den Nachweis bieten sich thermische, photoelektrische und photochemische Methoden an.

Bei thermischen S. (thermische Detektoren) wird die nachzuweisende Strahlung im Empfängermaterial absorbiert und die daraus resultierende Temperaturerhöhung direkt (z.B. bei einem Strahlungsthermoelement) oder indirekt (z.B. bei einem optoakustischen Empfänger) in das elektrische Meßsignal umgewandelt. Thermische S. arbeiten über große Bereiche wellenlängenunabhängig. Sie können meist relativ einfach elektrisch kalibriert werden und gestatten in bestimmten Fällen die Absolutbestimmung von Strahlungsenergien (z.B. in einem Strahlungskalorimeter). Sie haben in der Regel eine geringere Empfindlichkeit und eine größere Zeitkonstante als z.B. photoelektrische Empfänger. Thermische Empfänger werden für den Nachweis im Infrarot (IR)- und Ferninfrarot (FIR)-Spektralbereich bevorzugt. Sie können auch für die Messung hoher Impulsenergien eingesetzt werden.

Photoelektrische S. (Photoempfänger) beruhen auf der Erzeugung freier Ladungsträger (Photoelektronen, Elektron-Loch-Paare) durch die im Empfängermaterial absorbierte Strahlung (Quantendetektoren). Dabei wird entweder der äußere Photoeffekt (Photoemission), der innere Photoeffekt (Photoleitung, Photo-EMK) oder der Photon-Drag-Effekt (Impulsübertragung auf freie Ladungsträger im Kristall, Photondrag-Empfänger) ausgenutzt. Photoelektrische S. besitzen eine hohe Empfindlichkeit in allerdings meist schmalen Wellenlängenbereichen, wobei die langwellige Grenze durch die Energiebandstruktur des Detektormaterials bestimmt wird. Sie können mit sehr kleinen Zeitkonstanten (bis 10-11 s) betrieben werden.

Für den Nachweis im IR-Bereich ist meist eine Kühlung (auf 1,5 bis 77 K) erforderlich. Die Kalibrierung erfolgt in der Regel durch Vergleich mit geeichten thermischen Empfängern.

Die photoelektrischen S. werden vorwiegend für zeitlich hochaufgelöste und hochempfindliche Messungen eingesetzt. Die Empfindlichkeit der photoelektrischen wie auch der thermischen S. wird durch das Verhältnis von erzeugter Signalspannung zu absorbierter Strahlungsleistung (V/W) definiert. Die Nachweisgrenze der Empfänger wird durch die rauschäquivalente Strahlungsleistung (Photoempfänger) gekennzeichnet.

Die bekannteste Methode des photochemischen Nachweises ist das photographische Verfahren (Photographie), das auf der Photolyse von Silbersalzen beruht. Der photographische S. eignet sich besonders für die Messung zweidimensionaler Intensitätsverteilungen, ist aber in seiner Anwendung auf den sichtbaren Spektralbereich und den Bereich noch kürzerer Wellenlängen beschränkt.

  • Die Autoren
Roland Barth, Jena
Dr. Artur Bärwolff, Berlin
Dr. Lothar Bauch, Frankfurt / Oder
Hans G. Beck, Jena
Joachim Bergner, Jena
Dr. Andreas Berke, Köln
Dr. Hermann Besen, Jena
Prof. Dr. Jürgen Beuthan, Berlin
Dr. Andreas Bode, Planegg
Prof. Dr. Joachim Bohm, Berlin
Prof. Dr. Witlof Brunner, Zeuthen
Dr. Eberhard Dietzsch, Jena
Kurt Enz, Berlin
Prof. Joachim Epperlein, Wilkau-Haßlau
Prof. Dr. Heinz Falk, Kleve
Dr. Wieland Feist, Jena
Dr. Peter Fichtner, Jena
Dr. Ficker, Karlsfeld
Dr. Peter Glas, Berlin
Dr. Hartmut Gunkel, Berlin
Dr. Reiner Güther, Berlin
Dr. Volker Guyenot, Jena
Dr. Hacker, Jena
Dipl.-Phys. Jürgen Heise, Jena
Dr. Erwin Hoffmann, Berlin (Adlershof)
Dr. Kuno Hoffmann, Berlin
Prof. Dr. Christian Hofmann, Jena
Wolfgang Högner, Tautenburg
Dipl.-Ing. Richard Hummel, Radebeul
Dr. Hans-Jürgen Jüpner, Berlin
Prof. Dr. W. Karthe, Jena
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Dr. Horst König, Berlin
Prof. Dr. Sigurd Kusch, Berlin
Dr. Heiner Lammert, Mahlau
Dr. Albrecht Lau, Berlin
Dr. Kurt Lenz, Berlin
Dr. Christoph Ludwig, Hermsdorf (Thüringen)
Rolf Märtin, Jena
Ulrich Maxam, Rostock
Olaf Minet, Berlin
Dr. Robert Müller, Berlin
Prof. Dr. Gerhard Müller, Berlin
Günter Osten, Jena
Prof. Dr. Harry Paul, Zeuthen
Prof. Dr. Wolfgang Radloff, Berlin
Prof Dr. Karl Regensburger, Dresden
Dr. Werner Reichel, Jena
Rolf Riekher, Berlin
Dr. Horst Riesenberg, Jena
Dr. Rolf Röseler, Berlin
Günther Schmuhl, Rathenow
Dr. Günter Schulz, Berlin
Prof. Dr. Johannes Schwider, Erlangen
Dr. Reiner Spolaczyk, Hamburg
Prof. Dr. Peter Süptitz, Berlin
Dr. Johannes Tilch, Berlin (Adlershof)
Dr. Joachim Tilgner, Berlin
Dr. Joachim Träger, Berlin (Waldesruh)
Dr. Bernd Weidner, Berlin
Ernst Werner, Jena
Prof. Dr. Ludwig Wieczorek, Berlin
Wolfgang Wilhelmi, Berlin
Olaf Ziemann, Berlin


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