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Lexikon der Optik: Dupligrammetrie

Dupligrammetrie, ein veraltetes Verfahren zur Auswertung von Interferogrammen nach dem Doppelrasterprinzip (rasteroptische Erscheinungen). Es werden zwei photographisch aufgenommene Interferogramme mit einer rasterförmigen Struktur (Trägerfrequenz-Interferogramme, Interferenzstreifen), die entweder identisch oder ein wenig verschieden sein können, geringfügig gegeneinander verdreht bzw. verschoben aufeinandergelegt und mit Licht durchstrahlt. In dem dabei entstehenden Dupligramm oder Shearbild treten dann niederfrequente Moiré-Streifen auf, die sich durch optische Tiefpaßfilterung (z.B. unscharfe Abbildung) von den Trägerinterferenzstreifen separieren lassen. Von besonderer praktischer Bedeutung sind Raster in Form konzentrischer Kreise, deren Radien gleich

(n=1, 2, 3, ... und a eine Konstante) sind (z.B. Newtonsche Ringe oder Fresnelsche Zonen auf einer Zonenplatte). Kombiniert man zwei derartige identische Raster so miteinander, daß die Mittelpunkte der Ringsysteme ein wenig gegeneinander verschoben sind, so haben die Moiré-Streifen die Form äquidistanter paralleler Geraden. Die hellen Streifen gehen durch die Schnittpunkte der Kreise hindurch, und ihr Abstand ist umgekehrt proportional zum Abstande der Mittelpunkte der Ringsysteme und proportional zur Konstanten a. Abweichungen des konzentrischen Ringsystems von der genannten idealen Gestalt haben Verformungen der Geraden zur Folge. Die D. kann daher zur optischen Prüfung verwendet werden. Es werden zwei Interferogramme eines zu prüfenden Objektivs angefertigt, wobei das Interferometer zu diesem Zwecke defokussiert wird. Wegen der Defokussierung besteht das Interferogramm aus einem Ringsystem der oben geschilderten Art. Auftretende Verformungen der Moiré-Streifen lassen dann Rückschlüsse auf Aberrationen des Objektivs zu. In ähnlicher Weise kann man durch Kombination zweier zu unterschiedlichen Zeiten hergestellter Interferogramme eines geeigneten Objektes ein Dupligramm erzeugen, aus dem man auf eine stattgefundene Änderung des Zustandes des Objektes schließen kann.

Die D. eignet sich auch zur Auswertung von Interferogrammen mit einer Streifenstruktur, wie sie bei Kippung des Referenzspiegels in Interferometern auftreten.

  • Die Autoren
Roland Barth, Jena
Dr. Artur Bärwolff, Berlin
Dr. Lothar Bauch, Frankfurt / Oder
Hans G. Beck, Jena
Joachim Bergner, Jena
Dr. Andreas Berke, Köln
Dr. Hermann Besen, Jena
Prof. Dr. Jürgen Beuthan, Berlin
Dr. Andreas Bode, Planegg
Prof. Dr. Joachim Bohm, Berlin
Prof. Dr. Witlof Brunner, Zeuthen
Dr. Eberhard Dietzsch, Jena
Kurt Enz, Berlin
Prof. Joachim Epperlein, Wilkau-Haßlau
Prof. Dr. Heinz Falk, Kleve
Dr. Wieland Feist, Jena
Dr. Peter Fichtner, Jena
Dr. Ficker, Karlsfeld
Dr. Peter Glas, Berlin
Dr. Hartmut Gunkel, Berlin
Dr. Reiner Güther, Berlin
Dr. Volker Guyenot, Jena
Dr. Hacker, Jena
Dipl.-Phys. Jürgen Heise, Jena
Dr. Erwin Hoffmann, Berlin (Adlershof)
Dr. Kuno Hoffmann, Berlin
Prof. Dr. Christian Hofmann, Jena
Wolfgang Högner, Tautenburg
Dipl.-Ing. Richard Hummel, Radebeul
Dr. Hans-Jürgen Jüpner, Berlin
Prof. Dr. W. Karthe, Jena
Dr. Siegfried Kessler, Jena
Dr. Horst König, Berlin
Prof. Dr. Sigurd Kusch, Berlin
Dr. Heiner Lammert, Mahlau
Dr. Albrecht Lau, Berlin
Dr. Kurt Lenz, Berlin
Dr. Christoph Ludwig, Hermsdorf (Thüringen)
Rolf Märtin, Jena
Ulrich Maxam, Rostock
Olaf Minet, Berlin
Dr. Robert Müller, Berlin
Prof. Dr. Gerhard Müller, Berlin
Günter Osten, Jena
Prof. Dr. Harry Paul, Zeuthen
Prof. Dr. Wolfgang Radloff, Berlin
Prof Dr. Karl Regensburger, Dresden
Dr. Werner Reichel, Jena
Rolf Riekher, Berlin
Dr. Horst Riesenberg, Jena
Dr. Rolf Röseler, Berlin
Günther Schmuhl, Rathenow
Dr. Günter Schulz, Berlin
Prof. Dr. Johannes Schwider, Erlangen
Dr. Reiner Spolaczyk, Hamburg
Prof. Dr. Peter Süptitz, Berlin
Dr. Johannes Tilch, Berlin (Adlershof)
Dr. Joachim Tilgner, Berlin
Dr. Joachim Träger, Berlin (Waldesruh)
Dr. Bernd Weidner, Berlin
Ernst Werner, Jena
Prof. Dr. Ludwig Wieczorek, Berlin
Wolfgang Wilhelmi, Berlin
Olaf Ziemann, Berlin


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