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Lexikon der Optik: Asphärenberechnung

Asphärenberechnung, die Berechnung asphärischer Flächen eines optischen Systems. Sie erfolgt kombiniert mit der Berechnung seiner anderen Flächen unter Anwendung besonderer Methoden. Diese richten sich nach dem zu lösenden optischen Problem (Asphärenanwendungen).

Die A. beginnt häufig mit einer angenäherten Bestimmung des optischen Systems im achsennahen Bereich, insbesondere im Seidelschen Gebiet, wo nur die Seidelschen Bildfehler (Aberrationen) berücksichtigt werden. Dadurch erhält man ein Startsystem, das bereits Asphärizitätsparameter enthält, etwa den Deformationskoeffizienten einer asphärischen Fläche. Die weiteren Berechnungen benötigen als Hilfsmittel oft die genaue Durchrechnung von Strahlen durch eine Folge von Flächen (Strahldurchrechnung, insbesondere 3)). Aufgrund solcher Strahldurchrechnungen lassen sich Strahl- bzw. Wellenaberrationen bestimmen. Die endgültige Berechnung des Systems erfolgt dann häufig durch Optimierung mit einer Gütefunktion, die seine Abbildungsleistung kennzeichnet. Diese Funktion hängt von den berechneten Aberrationen und über diese von den Parametern des optischen Systems ab, d.h. auch von seinen Asphärizitätsparametern. Die mathematische Aufgabe besteht dann darin, diese Systemparameter so zu variieren, daß die Aberrationen genügend klein und die Abbildungsleistung möglichst hoch wird.

Für spezielle Zwecke werden of auch andere Berechnungsmethoden verwendet. Das geschieht besonders bei Systemen, bei denen jeder Punkt einer optischen Fläche nur von Strahlen mit dort sehr wenig unterschiedlicher Richtung getroffen wird, so daß die Strahlrichtung näherungsweise nur vom Ort auf der Fläche abhängt. Man kann dann die einzelnen Flächenelemente nacheinander bestimmen. Zu diesem Zweck kann man die Fläche(n) in der unmittelbaren Umgebung eines Strahls betrachten, die zu erfüllenden optischen Forderungen in Form von Differentialgleichungen ausdrücken und diese lösen, was meist numerisch geschieht. Die Flächenelemente können auch ohne Differentialgleichung nacheinander bestimmt werden und zwar unter Durchrechnung einer Folge von Strahlen durch das optische System, deren Achsenabstände schrittweise zunehmen. Begonnen wird mit einem Strahl in der unmittelbaren Achsenumgebung, wo das System zunächst nur bekannt ist. Wenn dann ein neuer Strahl auf ein noch unbekanntes Flächenelement trifft, wird dieses so gewählt, daß der durchgerechnete Strahl die gewünschte Forderung erfüllt (z.B. aberrationsfrei ist).

Für Berechnungen in einfachen Fällen und bei weniger hohen Genauigkeitsanforderungen spielen Rotationskegelschnitte eine besondere Rolle, d.h. kartesische Flächen zweiter Ordnung (asphärische Fläche).

  • Die Autoren
Roland Barth, Jena
Dr. Artur Bärwolff, Berlin
Dr. Lothar Bauch, Frankfurt / Oder
Hans G. Beck, Jena
Joachim Bergner, Jena
Dr. Andreas Berke, Köln
Dr. Hermann Besen, Jena
Prof. Dr. Jürgen Beuthan, Berlin
Dr. Andreas Bode, Planegg
Prof. Dr. Joachim Bohm, Berlin
Prof. Dr. Witlof Brunner, Zeuthen
Dr. Eberhard Dietzsch, Jena
Kurt Enz, Berlin
Prof. Joachim Epperlein, Wilkau-Haßlau
Prof. Dr. Heinz Falk, Kleve
Dr. Wieland Feist, Jena
Dr. Peter Fichtner, Jena
Dr. Ficker, Karlsfeld
Dr. Peter Glas, Berlin
Dr. Hartmut Gunkel, Berlin
Dr. Reiner Güther, Berlin
Dr. Volker Guyenot, Jena
Dr. Hacker, Jena
Dipl.-Phys. Jürgen Heise, Jena
Dr. Erwin Hoffmann, Berlin (Adlershof)
Dr. Kuno Hoffmann, Berlin
Prof. Dr. Christian Hofmann, Jena
Wolfgang Högner, Tautenburg
Dipl.-Ing. Richard Hummel, Radebeul
Dr. Hans-Jürgen Jüpner, Berlin
Prof. Dr. W. Karthe, Jena
Dr. Siegfried Kessler, Jena
Dr. Horst König, Berlin
Prof. Dr. Sigurd Kusch, Berlin
Dr. Heiner Lammert, Mahlau
Dr. Albrecht Lau, Berlin
Dr. Kurt Lenz, Berlin
Dr. Christoph Ludwig, Hermsdorf (Thüringen)
Rolf Märtin, Jena
Ulrich Maxam, Rostock
Olaf Minet, Berlin
Dr. Robert Müller, Berlin
Prof. Dr. Gerhard Müller, Berlin
Günter Osten, Jena
Prof. Dr. Harry Paul, Zeuthen
Prof. Dr. Wolfgang Radloff, Berlin
Prof Dr. Karl Regensburger, Dresden
Dr. Werner Reichel, Jena
Rolf Riekher, Berlin
Dr. Horst Riesenberg, Jena
Dr. Rolf Röseler, Berlin
Günther Schmuhl, Rathenow
Dr. Günter Schulz, Berlin
Prof. Dr. Johannes Schwider, Erlangen
Dr. Reiner Spolaczyk, Hamburg
Prof. Dr. Peter Süptitz, Berlin
Dr. Johannes Tilch, Berlin (Adlershof)
Dr. Joachim Tilgner, Berlin
Dr. Joachim Träger, Berlin (Waldesruh)
Dr. Bernd Weidner, Berlin
Ernst Werner, Jena
Prof. Dr. Ludwig Wieczorek, Berlin
Wolfgang Wilhelmi, Berlin
Olaf Ziemann, Berlin


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