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Lexikon der Optik: Spektralanalyse

Spektralanalyse, spektrochemische Analyse, Methode zum Nachweis bestimmter Bestandteile in einem Stoff mit spektroskopischen Verfahren. Die S. beruht auf der Tatsache, daß unterschiedliche Substanzen unterschiedliche Spektren (Spektrum) aufweisen. Zur Messung werden ausgewählte Linien (Analysenlinien) herangezogen. Die S. wird zur qualitativen und, bei Benutzung von Kalibrierproben, zur quantitativen Analyse eingesetzt. Bestimmungen der Konzentration c bedürfen mindestens zweier Messungen, der Messung des Leerwertes X (Signal der Probe ohne Beimengung) und der Messung der Kalibrierfunktion a=f(c). Dabei ist a die Intensität einer Emissions- oder Fluoreszenzlinie bzw. die spektrale Extinktion einer Absorptionslinie. Der Differentialquotient da/dc heißt Empfindlichkeit. Als Nachweisgrenze bezeichnet man die Konzentration cmin=f-1(Xmin) mit Xmin=3σ+X. Dabei bedeuten f-1 die zu f gehörige Umkehrfunktion und σ die Standardabweichung des Leerwertes (3σ-Kriterium nach Kaiser). Sind die zu bestimmenden Bestandteile Atome, spricht man von der Atomspektralanalyse, im Falle von Molekülen von der Molekülspektralanalyse. In der Atomspektralanalyse ist es notwendig, den zu untersuchenden Stoff in die Gasphase zu überführen. Dazu bedient man sich eines Atomisators. Je nachdem, ob das Emissions- oder das Absorptionsspektrum beobachtet wird, spricht man von Atomemissions-, Atomfluoreszenz- oder Atomabsorptions-Spektrometrie. In der Mikrospektralanalyse werden kleine Probenmengen untersucht, in der Spuren-Spektralanalyse kleine Gehalte bestimmt. Eine spezielle Methode für die Lokalanalyse ist die Laser-Mikroanalyse. Die Nutzung der Röntgenstrahlen führt zur Röntgenspektralanalyse. Mit der Molekülspektroskopie können gasförmige, flüssige und feste Proben direkt untersucht werden. Die Absorptionsspektralanalyse wird dabei im infraroten, sichtbaren oder ultravioletten Spektralbereich betrieben. Emissionsmethoden der Molekülspektroskopie sind die Raman-Spektroskopie und die Fluoreszenzspektroskopie.

Ein wichtiges Problem bei der Spektralanalyse ist die Untergrundkompensation. Ein Teilgebiet der S. ist die atomspektroskopische Elementspurenanalyse.

  • Die Autoren
Roland Barth, Jena
Dr. Artur Bärwolff, Berlin
Dr. Lothar Bauch, Frankfurt / Oder
Hans G. Beck, Jena
Joachim Bergner, Jena
Dr. Andreas Berke, Köln
Dr. Hermann Besen, Jena
Prof. Dr. Jürgen Beuthan, Berlin
Dr. Andreas Bode, Planegg
Prof. Dr. Joachim Bohm, Berlin
Prof. Dr. Witlof Brunner, Zeuthen
Dr. Eberhard Dietzsch, Jena
Kurt Enz, Berlin
Prof. Joachim Epperlein, Wilkau-Haßlau
Prof. Dr. Heinz Falk, Kleve
Dr. Wieland Feist, Jena
Dr. Peter Fichtner, Jena
Dr. Ficker, Karlsfeld
Dr. Peter Glas, Berlin
Dr. Hartmut Gunkel, Berlin
Dr. Reiner Güther, Berlin
Dr. Volker Guyenot, Jena
Dr. Hacker, Jena
Dipl.-Phys. Jürgen Heise, Jena
Dr. Erwin Hoffmann, Berlin (Adlershof)
Dr. Kuno Hoffmann, Berlin
Prof. Dr. Christian Hofmann, Jena
Wolfgang Högner, Tautenburg
Dipl.-Ing. Richard Hummel, Radebeul
Dr. Hans-Jürgen Jüpner, Berlin
Prof. Dr. W. Karthe, Jena
Dr. Siegfried Kessler, Jena
Dr. Horst König, Berlin
Prof. Dr. Sigurd Kusch, Berlin
Dr. Heiner Lammert, Mahlau
Dr. Albrecht Lau, Berlin
Dr. Kurt Lenz, Berlin
Dr. Christoph Ludwig, Hermsdorf (Thüringen)
Rolf Märtin, Jena
Ulrich Maxam, Rostock
Olaf Minet, Berlin
Dr. Robert Müller, Berlin
Prof. Dr. Gerhard Müller, Berlin
Günter Osten, Jena
Prof. Dr. Harry Paul, Zeuthen
Prof. Dr. Wolfgang Radloff, Berlin
Prof Dr. Karl Regensburger, Dresden
Dr. Werner Reichel, Jena
Rolf Riekher, Berlin
Dr. Horst Riesenberg, Jena
Dr. Rolf Röseler, Berlin
Günther Schmuhl, Rathenow
Dr. Günter Schulz, Berlin
Prof. Dr. Johannes Schwider, Erlangen
Dr. Reiner Spolaczyk, Hamburg
Prof. Dr. Peter Süptitz, Berlin
Dr. Johannes Tilch, Berlin (Adlershof)
Dr. Joachim Tilgner, Berlin
Dr. Joachim Träger, Berlin (Waldesruh)
Dr. Bernd Weidner, Berlin
Ernst Werner, Jena
Prof. Dr. Ludwig Wieczorek, Berlin
Wolfgang Wilhelmi, Berlin
Olaf Ziemann, Berlin


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